以简单的四脚光耦为例，里面集成发光二极管光敏三极管，方法一：采用比较法测试，拆下怀疑有问题的光耦，用其内部二极管、三极管的正反向电阻值，用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较，若阻值相差较大，则说明光耦已损坏。 方法二、假设1脚为二极管正极，在1，2两脚串连一个led灯并连上低压电源。在另一端量测电阻值，有值。断开电源后无穷大则代表光耦是好的。否则是坏的。另外光耦的原理是在输入端导通时，内部产生强光给内部三极管（可以想象为NPN型三极管）使之导通。注意搭电路测试时输出端要有上拉电压才能保证信号传输。
Dk测试方法有平行板法（电容法)，全板共振法，带状线谐振腔法，谐振腔微扰法等等。Rogers RO4730G3使用IPC-TM-650, 2.5.5.5的测试方法。详细解释清参考IPC-TM-650, 2.5.5.5的测试规范。
PCIE的速率比较高，目前应用中分成2.5G和5G两种速率，如果要测试信号，则需要高速示波器才行，并且还需要能分析PCIE协议。 简单测试的话，就从RT发数据，看EP是否能收到，同时检查是否丢包。当然先要检查RT和EP的配置是否匹配，链路是否link。
对材料导热系数测试方法包括稳态热板法与激光闪射法，国际通用标准是美国材料试验协会（ASTM）的 ASTM-D5470，ASTM-E1461，ASTM-E1530三种常用标准。各种不同的测试方法与测试标准得出的数据差异较大。ASTM-D5470与ASTM-E1461的测试值较为相近。ASTM-D5470标准，通过热阻反映导热系数，用稳态热流计法，对样品施加一定的热流量，压力，测试样品的厚度和在热板/冷板间的温度差，得到样品的导热系数，需要样品为较大的块体以获得足够的温度差。 ASTM-E1461：用闪光法（激光闪射法）确定固体热扩散率的试验方法，高强度的能量脉冲对小而薄的圆盘试样进行短时间的辐照。脉冲的能量被样品的前表面吸收并记录其所导致后表面温度上升（温度自记曲线）。热扩散系数的值通过试样的厚度和后表面温度上到某一比值的最大值所需要的时间计算出来。原理是一束激光打在样品上表面，用红外检测器测下表面的温度变化，实际测得的数据是样品的热扩散率。两种测试方法对比，ASTM-D5470更能模拟实际的使用状态。
奥伦德高隔离电压光耦器件OR-3H7-4，包含四个红外发光二极管，四个光电晶体管探测器，16引脚SOP封装，不含卤素和Sb2O3。输入输出隔离电压高达3,750Vrms，工作温度范围从-55 ℃ 到125℃，广泛用于可编程、测量仪器等工业应用。
电路中的电子元件主要有二极管、三极管、可控硅和场效应管等，其中最常用的是二极管和三极管。正确判断二极管、三极管的好坏是电工应该掌握的基本技能之一。
LED LAMP的正常作业电流为20mA，电压的细小动摇（如0.1V）都将引起电流的大幅度动摇（10%-15%）。
发光二极管YY-CITAPG的贴片0603小封装占板面积小可以直接贴片在USB接口板上，支持红光 515-531nm波长发射光，工作电压2.6V-3.1V，满足USB串口调试器要求。
KODENSHI（可天士）的SEL433-10是一款GaAs红外发光二极管，功率大、正向电压低。该器件在发光波长为940nm时的响应速度和效率得到了优化，在很宽的正向电流范围内具有很高的发光效率。
本文介绍了光耦的电流传输比（CTR）的定义、测量方法以及影响因素。详细阐述了CTR的测量电路、CTR随输入电流和环境温度的变化规律，并提供了计算CTR范围的方法。此外，还说明了如何利用CTR值进行电路设计，并推荐了相关应用手册以供参考。
本方案采用的是热式气体质量流量计方式进行气体流量测量， 为了进一步降低成本，在RS-485接口选用国产奥伦德的高速光耦进行隔离，隔离等级达3750V，完全满足燃气表的2.5KV的隔离要求。
二极管属于一个PN结，二极管的重要特性是正向导通，反向截止。本文以图文形式阐述测量二极管时，在什么情况下反向电压。
奥伦德推出的光耦合器OR-6N137由高效的AlGaAs红外发光二极管和高速光电晶体管探测器组成。这种设计在光电耦合器的输入和输出端之间提供了良好的交流和直流隔离。
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提供CE测试服务，通过晶体回路匹配分析，给出测试报告。支持EPSON所有MHz无源晶体、32.768KHz晶体。支持到场/视频直播测试，资深专家全程指导。
测试范围：扬兴晶振全系列晶体，通过对晶体回路匹配分析，调整频率、驱动功率和起振能力，解决频偏、不起振、干扰、频率错误等问题。技术专家免费分析，测完如有问题，会进一步晶振烧录/修改电路。
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