容性隔离器ISO7830FDWWR替代光耦

admin 发布于 2022-01-09 阅读(216)

  容性隔离器ISO7830FDWWR替代光耦1yovyum,从自身的结构和工艺等方面也产生了新的问题,一方面由于光耦属于半导体器件,其结构含有二极管、光接受管、芯片等都会受到ESD、引线键合、芯片缺损问题的影响而引起光耦的失效。另一方用于面光耦中起连接重要作用的导电胶,导电胶的开裂、分层、溢出等问题也会引起数据传输技术特性和隔离工作特性的失效。

  ADUM1201基于ADI获奖的iCoupler数字隔离器采用平面磁场专利隔离技术。iCoupler技术是一项专利隔离技术,它是基于芯片尺寸的变压器,而不是基于光电耦合器所采用的LED与光电二极管的组合。iCoupler技术由于取消了光电耦合器中的光电转换过程,并且采用了iCoupler变压器专利技术集成变压器驱动和接收电路,从而实现了光电隔离器无法比拟的性能优势。由于使用晶片级制造工艺直接在芯片上制造iCouple变压器,所以iCoupler通道比光电耦合器有效地实现通道之间的集成以及比较容易地实现半导体功能。个传输特性导致失败失败传输特性失效的主要模式为隔离电阻较小,造成隔离电阻较小的原因主要是导电胶的开裂,在导电性糊剂层离或溢出的结果,导电性粘接剂,使得的影响下迁移的导电糊溢出发生的电场,从而使RIO下降。光电耦合器自问世以来,成为了用途最广的电子元器件之一,有着传统电子元器件不具备的优点和特性。

  长线的“浮置”去掉了长线两端间的公共地线,不但有效消除了各电路的电流经公共地线时所产生杂讯电压形成相互窜扰,而且也有效地解决了长线驱动和阻抗匹配问题;同时,受控设备短路时,还能保护系统不受损害。过零检测电路中的光电隔离零交叉,即过零检测,指交流电压过零点被自动检测进而产生驱动信号,使电子开关在此时刻开始开通。现代的零交叉技术已与光电耦合技术相结合。图9为一种单片机数控交流调压器中可使用的过零检测电路。

  光电耦合器在并口长线引言光电耦合器(以下简称光耦)是一种由发光器件和光敏器件组成的光电器件。它能实现电→光→电信号的转换,并且输入信号与输出信号隔离。目前绝大多数的光耦输入采用砷化镓红外发光二极管,输出采用硅光电二极管、硅光电三极管及光触发可控硅。因为峰值波长900~940nm的砷化镓红外发光二极管能与硅光电器件的响应峰值波长相吻合,可获得较高的信号传输效率。

  容性隔离器ISO7830FDWWR替代光耦,TLP52l-4(GB)的典型电路如图1所示,具体的转换时间参数见表由表1可知,TLP521_4(GB)最大传输延迟时间为42μs,系统需要在1ms内完成8个字节的读或写,最大传输延迟时间已满足电路传输延迟时间的水平,因而在传输速度上完全能够满足长线传输的要求。通过对其输入端的控制,可使光耦按工作需要打开或关闭。当在输入控制端加高电平时,光耦正常工作。将输入端信号耦合到输出端,而当在输入控制端加低电平时,其输出端集电极开路三极管截止,对外呈高阻态。

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