光电耦合器——又称光耦合器或光耦，它属于较新型的电子产品，现在它广泛应用于计 算机、音视频……各种控制电路中。由于光耦内部的发光二极管和光敏三极管只是把电路前 后级的电压或电流变化，转化为光的变化，二者之间没有电气连接，因此能有效隔断电路间 的电位联系，实现电路之间的可靠隔离。 随着光电耦合器的日益稳定且普遍的情况下， 市场上出现了许许多多、 各式各样的光耦， 因此山寨牌的光耦也浮现出来了， 为了让广大的消费者能买到好的光耦， 亿光代理商超毅电 子跟大家讲解一下如何检查光耦的好坏： 判断光耦的好坏，可在路测量其内部二极管和三极管的正反向电阻来确定。更可靠的检 测方法是以下三种。 1、比较法拆下怀疑有问题的光耦，用万用表测量其内部二极管、三极管的正反向电阻 值，用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较，若阻值相差较大，则说明光耦已损坏。 2、数字万用表检测法下面以 EL817 光耦检测为例来说明数字万用表检测的方法，检测 电路如图 1 所示。 检测时将光耦内接二极管的＋端{1}脚和－端{2}脚分别插入数字万用表 的Ｈfe 的ｃ、ｅ插孔内，此时数字万用表应置于 NPN 挡；然后将光耦内接光电三极管 C 极{5}脚接指针式万用表的黑表笔， e 极{4}脚接红表笔， 并将指针式万用表拨在 RX1k 挡。 这样就能通过指针式万用表指针的偏转角度——实际上是光电流的变化，来判断光耦的情 况。指针向右偏转角度越大，说明光耦的光电转换效率越高，即传输比越高，反之越低；若 表针不动，则说明光耦已损坏。 3、光电效应判断法仍以 EL817 光耦合器的检测为例，检测电路如图 2 所示。将万用表 置于 RX1k 电阻挡，两表笔分别接在光耦的输出端{4}、{5}脚；然后用一节１．５Ｖ的电 池与一只５０～１００Ω 的电阻串接后， 电池的正极端接 EL817 的{1}脚， 负极端碰接{2} 脚， 或者正极端碰接{1}脚， 负极端接{2}脚， 这时观察接在输出端万用表的指针偏转情况。 如果指针摆动，说明光耦是好的，如果不摆动，则说明光耦已损坏。万用表指针摆动偏转角 度越大，表明光电转换灵敏度越高。
用两个万用表就可以测了。光电耦合器由发光二极管和受光三极管封装组成。如光电耦合 器 4N25，采用 DIP-6 封装，共六个引脚，①、②脚分别为阳、阴极，③脚为空脚，④、 ⑤、⑥脚分别为三极管的 e、c、b 极。 以往用万用表测光耦时，只分别检测判断发光二极管和受光三极管的好坏，对光耦的传输 性能未进行判断。这里以光耦 4N25 为例，介绍一种测量光耦传输特性的方法。 1、判断发光二极管好坏与极性：用万用表Ｒ×１ｋ挡测量二极管的正、负向电阻，正向 电阻一般为几千欧到几十千欧，反向电阻一般应为∞。测得电阻小的那次，红笔接的是二极 管的负极。 2、判断受光三极管的好坏与放大倍数：将万用表开关从电阻挡拨至三极管ｈＦＥ挡，使 用ＮＰＮ型插座，将Ｅ孔连接④脚发射极，Ｃ孔连接⑤脚集电极，Ｂ孔连接⑥脚基极，显示 值即为三极管的电流放大倍数。 一般通用型光耦ｈＦＥ值为一百至几百， 若显示值为零或溢 出为∞，则表明三极管短路或开路，已损坏。 3、光耦传输特性的测量：测试具体接线见下图，将数字万用表开关拨至二极管挡位，黑 笔接发射极，红笔接集电极，⑥脚基极悬空。这时，表内基准电压 2.8V 经表内二极管挡的 测量电路，加到三极管的 c、e 结之间。但由于输入二极管端无光电信号而不导通，液晶显 示器显示溢出符号。当输入端②脚插入Ｅ孔，①脚插入 C 孔的 NPN 插座时，表内基准电源 2.8V 经表内三极管ｈＦＥ挡的量电路，使发光二极管发光，受光三极管因光照而导通，显 示值由溢出符号瞬间变到 188 的示值。 当断开①脚阳极与 C 孔的插接时， 显示值瞬间从 188 示值又回到溢出符号。不同的光耦，传输特性与效率也不相同，可选择示值稍小、显示值稳 定不跳动的光耦应用。由于表内多使用 9V 叠层电池，故给输入端二极管加电的时间不能过 长，以免降低电池的使用寿命及测量精度，可采用断续接触法测量。
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