如何检测光耦的好坏文章出处：广州市超毅电子有限公司 光电耦合器——又称光耦合器或光耦，它属于较新型的电子产品，现在它广 泛应用于计算机、音视频……各种控制电路中。由于光耦内部的发光二极管和光 敏三极管只是把电路前后级的电压或电流变化，转化为光的变化，二者之间没有 电气连接，因此能有效隔断电路间的电位联系，实现电路之间的可靠隔离。 随着光电耦合器的日益稳定且普遍的情况下，市场上出现了许许多多、各式 各样的光耦，因此山寨牌的光耦也浮现出来了，为了让广大的消费者能买到好的 光耦，亿光代理商超毅电子跟大家讲解一下如何检查光耦的好坏： 判断光耦的好坏，可在路测量其内部二极管和三极管的正反向电阻来确定。 更可靠的检测方法是以下三种。 1、比较法拆下怀疑有问题的光耦，用万用表测量其内部二极管、三极管的 正反向电阻值，用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较，若阻值相差较大，则 说明光耦已损坏。 2、数字万用表检测法下面以EL817 光耦检测为例来说明数字万用表检测的 方法，检测电路如图1 所示。检测时将光耦内接二极管的+端{1}脚和-端{2}脚分 别插入数字万用表的Hfe 插孔内，此时数字万用表应置于NPN挡;然后 将光耦内接光电三极管C极{5}脚接指针式万用表的黑表笔，e 并将指针式万用表拨在RX1k挡。这样就能通过指针式万用表指针的偏转角度 ——实际上是光电流的变化，来判断光耦的情况。指针向右偏转角度越大，说明 光耦的光电转换效率越高，即传输比越高，反之越低;若表针不动，则说明光耦 已损坏。 3、光电效应判断法仍以EL817 光耦合器的检测为例，检测电路如图2 所示。 将万用表置于RX1k 电阻挡，两表笔分别接在光耦的输出端{4}、{5}脚;然后用一 节1.5V 的电池与一只50～100Ω的电阻串接后，电池的正极端接EL817 负极端碰接{2}脚，或者正极端碰接{1}脚，负极端接{2}脚，这时观察接在输出端万用表的指针偏转情况。如果指针摆动，说明光耦是好的，如果不摆动，则说 明光耦已损坏。万用表指针摆动偏转角度越大，表明光电转换灵敏度越高。 用两个万用表就可以测了。光电耦合器由发光二极管和受光三极管封装组 成。如光电耦合器4N25，采用DIP-6 封装，共六个引脚，、脚分别为阳、 阴极，脚为空脚，、、脚分别为三极管的e、c、b 以往用万用表测光耦时，只分别检测判断发光二极管和受光三极管的好坏，对光耦的传输性能未进行判断。这里以光耦4N25 为例，介绍一种测量光耦传输 特性的方法。 1、判断发光二极管好坏与极性：用万用表R1k 挡测量二极管的正、负向 电阻，正向电阻一般为几千欧到几十千欧，反向电阻一般应为。测得电阻小的 那次，红笔接的是二极管的负极。 2、判断受光三极管的好坏与放大倍数：将万用表开关从电阻挡拨至三极管 hFE 挡，使用NPN 型插座，将E 孔连接脚发射极，C 孔连接脚集电极，B 孔连接脚基极，显示值即为三极管的电流放大倍数。一般通用型光耦hFE 为一百至几百，若显示值为零或溢出为，则表明三极管短路或开路，已损坏。3、光耦传输特性的测量：测试具体接线见下图，将数字万用表开关拨至二 极管挡位，黑笔接发射极，红笔接集电极，脚基极悬空。这时，表内基准电压 2.8V 经表内二极管挡的测量电路，加到三极管的c、e 结之间。但由于输入二极 管端无光电信号而不导通，液晶显示器显示溢出符号。当输入端脚插入E 脚插入C孔的NPN 插座时，表内基准电源2.8V 经表内三极管hFE 路，使发光二极管发光，受光三极管因光照而导通，显示值由溢出符号瞬间变到188 的示值。当断开脚阳极与C 孔的插接时，显示值瞬间从188 示值又回到溢 出符号。不同的光耦，传输特性与效率也不相同，可选择示值稍小、显示值稳定 不跳动的光耦应用。由于表内多使用9V 叠层电池，故给输入端二极管加电的时 间不能过长，以免降低电池的使用寿命及测量精度，可采用断续接触法测量。 如果光耦用户遇到在使用光耦上的问题的话，可以直接联系超毅电子客服， 超毅电子会为你提供最专业的光耦技术人员，为你解决光耦应用上故障的技术支 持以及提供最好的亿光光耦。免费热线：
如何检测光耦光电耦合器的好坏（精品pdf）,如何判断光耦好坏,光耦怎么测好坏,光耦好坏判断,光电耦合器,光电耦合器工作原理,光电耦合器的作用,光电耦合器参数,光电耦合器选型,光电耦合器型号
发表评论:
◎欢迎参与讨论，请在这里发表您的看法、交流您的观点。