如何检测光耦的好坏 —— …… —— …… 光电耦合器————又称光耦合器或光耦，它属于较新型的电子产品，现在它广泛应用于计算机、音视频…………各种控 制电路中。由于光耦内部的发光二极管和光敏三极管只是把电路前后级的电压或电流变化，转化为光的变化，二者之间 没有电气连接，因此能有效隔断电路间的电位联系，实现电路之间的可靠隔离。 判断光耦的好坏，可在路测量其内部二极管和三极管的正反向电阻来确定。更可靠的检测方法是以下三种。 １． 比较法 拆下怀疑有问题的光耦，用万用表测量其内部二极管、三极管的正反向电阻值，用其与好的光耦对应脚 的测量值进行比较，若阻值相差较大，则说明光耦已损坏。 ２． 数字万用表检测法 下面以ＰＣ１１１光耦检测为例来说明数字万用表检测的方法，检测电路如图１所示。检测 {1} {2} fe {1} {2} fe 时将光耦内接二极管的＋端{{11}}脚和－端{{22}}脚分别插入数字万用表的Ｈffee的ｃ、ｅ插孔内，此时数字万用表应置于ＮＰ {5} {4} × {5} {4} × Ｎ挡；然后将光耦内接光电三极管ｃ极{{55}}脚接指针式万用表的黑表笔，ｅ极{{44}}脚接红表笔，并将指针式万用表拨在Ｒ×× —— —— １ｋ挡。这样就能通过指针式万用表指针的偏转角度————实际上是光电流的变化，来判断光耦的情况。指针向右偏转角 度越大，说明光耦的光电转换效率越高，即传输比越高，反之越低；若表针不动，则说明光耦已损坏。 × × ３． 光电效应判断法 仍以ＰＣ１１１光耦合器的检测为例，检测电路如图２所示。将万用表置于Ｒ××１ｋ电阻挡，两 {4} {5} Ω {4} {5} Ω 表笔分别接在光耦的输出端{{44}}、{{55}}脚；然后用一节１．５Ｖ的电池与一只５０～１００ΩΩ的电阻串接后，电池的正极 {1} {2} {1} {2} {1} {2} {1} {2} 端接ＰＣ１１１的{{11}}脚，负极端碰接{{22}}脚，或者正极端碰接{{11}}脚，负极端接{{22}}脚，这时观察接在输出端万用表的指针 偏转情况。如果指针摆动，说明光耦是好的，如果不摆动，则说明光耦已损坏。万用表指针摆动偏转角度越大，表明光 电转换灵敏度越高。 用两个万用表就可以测了。 光电耦合器由发光二极管和受光三极管封装 组成。如光电耦合器４Ｎ２５，采用ＤＩＰ－６封装，共六个引脚，①、②脚 分别为阳、阴极，③脚为空脚，④、⑤、⑥脚分别为三极管的ｅ、ｃ、ｂ极。 以往用万用表测光耦时，只分别检测判断发光二极管和受光三极管的好 坏，对光耦的传输性能未进行判断。这里以光耦４Ｎ２５为例，介绍一种测量 光耦传输特性的方法。 × × ×× １． 判断发光二极管好坏与极性：用万用表Ｒ １ｋ挡测量二极管的正、 ∞ ∞ 负向电阻，正向电阻一般为几千欧到几十千欧，反向电阻一般应为∞∞。测得电阻 小的那次，红笔接的是二极管的负极。 ２． 判断受光三极管的好坏与放大倍数：将万用表开关从电阻挡拨至三 极管ｈＦＥ挡，使用ＮＰＮ型插座，将Ｅ孔连接④脚发射极，Ｃ孔连接⑤脚集 电极，Ｂ孔连接⑥脚基极，显示值即为三极管的电流放大倍数。一般通用型光 ∞ ∞ ∞∞ 耦ｈＦＥ值为一百至几百，若显示值为零或溢出为 ，则表明三极管短路或开路， 已损坏。 ３． 光耦传输特性的测量：测试具体接线见下图，将数字万用表开关拨 至二极管挡位，黑笔接发射极，红笔接集电极，⑥脚基极悬空。这时，表内基 准电压２．８Ｖ经表内二极管挡的测量电路，加到三极管的ｃ、ｅ结之间。但 由于输入二极管端无光电信号而不导通，液晶显示器显示溢出符号。当输入端 ②脚插入Ｅ孔，①脚插入Ｃ孔的ＮＰＮ插座时，表内基准电源２．８Ｖ经表内 三极管ｈＦＥ挡的测量电路，使发光二极管发光，受光三极管因光照而导通， 显示值由溢出符号瞬间变到１８８的示值。当断开①脚阳极与Ｃ孔的插接时， 显示值瞬间从１８８示值又回到溢出符号。不同的光耦，传输特性与效率也不 相同，可选择示值稍小、显示值稳定不跳动的光耦应用。 由于表内多使用９Ｖ叠层电池，故给输入端二极管加电的时间不能过长， 以免降低电池的使用寿命及测量精度，可采用断续接触法测量
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