如何检测光耦的好坏经典

admin 发布于 2021-01-11 阅读(461)

  基本要求: 1、创建景区分布图 2、邻接矩阵输出景点分布图 3、输出导游路线、判断导游路线、求两个景点之间的最短距离 6、输出道路修建规划图 7、主菜单控制(switch)

  1 引言 近十多年来,随着电力电子技术、微电子技术及现代控制理论向交流电气传动领域的渗透,变频交流调速已逐渐取代了过去的滑差调速、变极调速、直流调速等调速系统。几乎可以说,有交流电动机的地方就有变频器的使用。其最主要的特点是具有高效率的驱动性能及良好的控制特性。 现在通用型的变频器一般包括以下几个部分:整流桥、逆变桥、中间直流电路、预充电电路、控制电路、驱动电路等。一台变频器的好坏,驱动电路起着至关重要的作用,现就来谈谈驱动电路常见的问题以及解决的办法。 驱动电路只是一个统称,随着技术的不断发展,驱动电路本身也经历了从插脚式元的驱动电路到光耦驱动电

  光电耦合器广泛应用于可编程序、变频器、家用电器、工业生产等各个行业的电子装置中,其作用众所周知:信号的隔离、耦合传输,对电子装置高压系统电路发生故障,不会波及控制系统。在电路维修中,为快速高效判断其好坏,本人设计自制了一款体积小巧、精准度的光耦芯片测试电路。 一、工作原理 电路原理如图1 所示,电路用9V 可充电层叠电池供电,循环使用,绿色环保,便于携带。图中ICx 为16 脚带锁活动插座,待测光耦按脚定位放入插座并锁紧。R1 与RP 和R6 组成分压调整限流电路,R6 在测试多通道光耦芯片时同时也作均压电阻使用,以保证多通道内的多只发光二极管所加电压相同。 图1 实用

  光电耦合器由发光二极管和受光三极管封装组成。如光电耦合器4N25,采用DIP-6封装,共六个引脚,①、②脚分别为阳、阴极,③脚为空脚,④、⑤、⑥脚分别为三极管的e、c、b极。      以往用万用表测光耦时,只分别检测判断发光二极管和受光三极管的好坏,对光耦的传输性能未进行判断。这里以光耦4N25为例,介绍一种测量光耦传输特性的方法。     1. 判断发光二极管好坏与极性:用万用表R×1k挡测量二极管的正、负向电阻,正向电阻一般为几千欧到几十千欧,反向电阻一般应为∞。测得电阻小的那次,红笔接的是二极管的负极。      2. 判断受光三极管的好坏与放大倍数:将万用表开关从电阻挡拨至三极管hF

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  光电耦合器测试电路图(一) 光电耦合器运用广泛,依据光电耦合器特性,设计一个方便的测试光电耦合器电路,该电路简单、准确,使用方便。 电路原理: 当电源接通后,LED不发光。按下S2,LED会发光。调RP,LED的发光强度会发生变化,说明光电耦合器是好的。印刷电路板图如下图,电池采用3V纽扣电池,电池安装在印刷板的铜箔面,用铜片扣住并焊稳即可。 本印刷板适合用于TLP621、TLP521、TLP321、TLP124、TLP121、PC817、PC713、PC617、ON3111、ON3131以及TLP332、TLP532、TLP632、TLP634、TLP732、CNX82A、F

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  本文介绍了一种专门适用于电机驱动电流检测的光耦隔离运放HCPL-7800的结构和特点,并重点介绍了此隔离运放的应用。

  使用pandas处理数据时,如何实现删除/选取某列含有特殊数值的行或者某行含有特殊数值的列,以及如何去除含有空值的行或列

  雷赛MA860H步进电机驱动器的安装说明 名称 功能 PUL+ 脉冲输入信号: 脉冲有效沿可调,默认脉冲上升沿有效;为了可靠响应脉冲信号,脉冲宽度应大于1.2μs。如采用+12V或+24V时需串电阻。 双脉冲模式下:CW PUL- DIR+ 方向输入信号: 高/低电平信号,为保证电机可靠换向,方向信号应先于脉冲信号至少5μs建立。电机的初始运行方向与电机绕组接线有关,互换任一相绕组(如A+、A-交换)可以改变电机初始运行的方向。如采用+12V或+24V时需串电阻。 双脉冲模式下:CCW DIR- ENA+ 使能控制信号,此输入信号用于使能或禁止驱动器输出。ENA接低电平(或内部光耦导通)时

  双向可控硅原理 “双向可控硅”:是在普通可控硅的基础上发展而成的,它不仅能代替两只反极性并联的可控硅,而且仅需一个触发电路,是比较理想的交流开关器件。其英文名称TRIAC即三端双向交流开关之意。 先看下图的工作原理: 如果想简单一点只要记住一句话即可,只要在G端有信号,那么T1-T2这条路就是通的,只有G在零点的时候才不会导通,主要来看一下应用吧。 来看一个电路图,其实双向可控硅多数用在交流电路中。 简单介绍一下,Q5是三极管,U2是个光耦,BT1就是双向可控硅,R144是一个压敏电阻,正常工作时候相当于断路,超过470V才起作用,CN5接负载,也就是说我只要给AirPump

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