如何检测光耦的好坏——光电耦合器————又称光耦合器或光耦，它属于较新型的电子产品，现在它广泛应用于计算机、音视频…………各种控制电路中。由于光耦内部的发光二极管和光敏三极管只是把电路前后级的电压或电流变化，转化为光的变化，二者之间没有电气连接，因此能有效隔断电路间的电位联系，实现电路之间的可靠隔离。判断光耦的好坏，可在路测量其内部二极管和三极管的正反向电阻来确定。更可靠的检测方法是以下三种。1．比较法拆下怀疑有问题的光耦，用万用表测量其内部二极管、三极管的正反向电阻值，用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较，若阻值相差较大，则说明光耦已损坏。2．数字万用表检测法下面以PC111光耦检测为例来说明数字万用表检测的方法，检测电路如图1所示。检测{1{2fe时将光耦内接二极管的＋端{1{1脚和－端{2{2脚分别插入数字万用表的Hfe的c、e插孔内，此时数字万用表应置于NP{5{4×N挡；然后将光耦内接光电三极管c极{5{5脚接指针式万
用表的黑表笔，e极{4{4脚接红表笔，并将指针式万用表拨在R×1k挡。这样就能通过指针式万用表指针的偏转角度————实际上是光电流的变化，来判断光耦的情况。指针向右偏转角度越大，说明光耦的光电转换效率越高，即传输比越高，反之越低；若表针不动，则说明光耦已损坏。3．光电效应判断法仍以PC111光耦合器的检测为例，检测电路如图2所示。将万用表
用红表笔的“电池+极”来接光耦的“1”端，用黑表笔的“电池-极”来接光耦的“2”端，用另外一个电表来测量“3”“4”端的电阻，断开或者接通输入端，当输出端的电阻有大幅度的变化时，说明光耦是好的。反之，则说明是坏的。
在光电33e4b893e5b19e039耦合器内部，由于发光管和受光器之间的耦合电容很小（2pF以内）所以共模输入电压通过极间耦合电容对输出电流的影响很小，因而共模抑制比很高。
光电耦合器的输出特性是指在一定的发光电流IF下，光敏管所加偏置电压VCE与输出电流IC之间的关系，当IF=0时，发光二极管不发光，此时的光敏晶体管集电极输出电流称为暗电流，一般很小。当IF0时，在一定的IF作用下，所对应的IC基本上与VCE无关。
IC与IF之间的变化成线性关系，用半导体管特性图示仪测出的光电耦合器的输出特性与普通晶体三极管输出特性相似。
在发光二极管上提供一个偏置电流，再把信号电压通过电阻耦合到发光二极管上，这样光电晶体管接收到的是在偏置电流上增、减变化的光信号，其输出电流将随输入的信号电压作线性变化。光电耦合器也可工作于开关状态，传输脉冲信号。
在传输脉冲信号时，输入信号和输出信号之间存在一定的延迟时间，不同结构的光电耦合器输入、输出延迟时间相差很大。
用数字万用表的PN结测量端，红表笔“电池+极”接光耦的“1”端，黑表笔“电池-极”接光耦的
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